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功能:(線掃描檢測):
1.代替IRIS(ASML);
2.PDS(尼康)玻璃和薄膜檢測:
玻璃和薄膜檢測:
1.大於>5um的缺陷尺寸可檢測能力
2.玻璃和薄膜側的顆粒去除功能
3.佳能、尼康和 ASML 面具兼容
4.通過在線和離線查看缺陷圖片
5.SECS GEM 與客戶 IT 的接口
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